9月23日，第一屆可重構(gòu)與智能計算論壇在安徽工程大學(xué)順利召開。昆山杜克大學(xué)協(xié)理副校長李昕教授，同濟(jì)大學(xué)軟件學(xué)院副院長江建慧教授，東南大學(xué)李必信教授，南京大學(xué)聶長海教授，我校計算機(jī)學(xué)院副院長王勇及陳乃金教授出席本次論壇，來自計算機(jī)與信息學(xué)院十余名骨干教師代表、全體研究生成員和部分本科拔尖班學(xué)生代表參加了此次論壇。論壇由計算機(jī)與信息學(xué)院副院長王勇教授主持。

李昕教授做了題為《Robust Wafer Classification with Imperfectly Labeled Data》的主旨報告，他在報告中指出，晶片分類是半導(dǎo)體制造的一項關(guān)鍵任務(wù)。大多數(shù)傳統(tǒng)算法都需要一個大規(guī)模的完全標(biāo)記的數(shù)據(jù)集來訓(xùn)練準(zhǔn)確的分類器。在實(shí)踐中，通常很難甚至不可能在沒有錯誤的情況下收集到完美的標(biāo)簽，并且在存在不完美標(biāo)簽數(shù)據(jù)的情況下，分類精度可能會顯著降低。通過一些新技術(shù)，可以以促進(jìn)具有噪聲標(biāo)簽的穩(wěn)健晶圓分類。這些技術(shù)可以分為三大類：（1）數(shù)據(jù)清理方法，（2）基于損失函數(shù)的方法，以及（3）互學(xué)習(xí)方法。穩(wěn)健的晶圓分類的有效性已通過相關(guān)工業(yè)數(shù)據(jù)集得到了驗證。

江建慧教授指出，隨著計算機(jī)和軟件在國民經(jīng)濟(jì)各行各業(yè)中的廣泛應(yīng)用，其可靠性問題越來越引起人們的普遍關(guān)注。江建慧教授結(jié)合同濟(jì)大學(xué)軟件學(xué)院相關(guān)課題組的科研工作，介紹了計算機(jī)系統(tǒng)和軟件的故障模式及影響分析、運(yùn)行時故障診斷、故障容忍、故障安全、故障測評等技術(shù)的原理、方法和案例，并討論了這些技術(shù)當(dāng)前所面臨的挑戰(zhàn)和機(jī)遇。

李必信教授以《軟件架構(gòu)能力提升的幾個關(guān)鍵問題》為題，圍繞軟件架構(gòu)（也稱軟件體系結(jié)構(gòu)software architecture）的能力提升的幾個方面展開介紹，重點(diǎn)介紹對軟件架構(gòu)的理解和做法以及企業(yè)合作應(yīng)用情況。

聶長海教授指出，隨著軟件，特別是人工智能軟件對經(jīng)濟(jì)和社會生活影響的日益滲透,軟件測試作為軟件質(zhì)量保障的一個重要環(huán)節(jié)，越來越受到人們的重視：軟件測試已不僅是軟件人才培養(yǎng)的專門課程，也已成為軟件產(chǎn)業(yè)中的一個重要職業(yè)，同時也是學(xué)術(shù)界一個熱門研究領(lǐng)域。本報告首先分析組合測試、故障注入測試、基于搜索的測試、變異測試、蛻變測試等若干有過研究的軟件測試方法所對應(yīng)的科學(xué)問題（源）和針對相應(yīng)科學(xué)問題而展開的研究（流）,說明該領(lǐng)域發(fā)展的動力,然后由此淺談軟件測試的理論、方法和未來發(fā)展趨勢，特別是對人工智能軟件的測試、區(qū)塊鏈軟件系統(tǒng)的測試等新型軟件測試?yán)碚摵头椒ǖ陌l(fā)展。

報告結(jié)束后，陳乃金教授主持了論壇閉幕式，專家們就可重構(gòu)與智能計算等方面的研究、專業(yè)學(xué)習(xí)方法等方面的問題和師生們進(jìn)行了交流，最后，全體與會專家及師生代表一起合影并留念。

（文：石建國；圖：陳乃金、唐肝翌；審核：王勇）